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高溫耐久性測試箱

高溫耐久性測試箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

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高溫耐久性測試箱應(yīng)用

溫度循環(huán)試驗(yàn)步入式恒溫恒濕環(huán)境試驗(yàn)室

步入式試驗(yàn)室的溫變速率可以達(dá)到所需環(huán)境和應(yīng)力篩選試驗(yàn)的要求。

儲(chǔ)藏和運(yùn)輸試驗(yàn)

步入式試驗(yàn)室可以模擬你的產(chǎn)品在儲(chǔ)藏和運(yùn)輸時(shí)的環(huán)境，從而檢測產(chǎn)品的性能。

電子器件的檢測試驗(yàn)

步入式試驗(yàn)室可以通過模擬惡劣的環(huán)境來檢測電子產(chǎn)品的可靠性。例如在低濕的條件下，來檢測靜電對產(chǎn)品的影響，在高溫的條件下檢測產(chǎn)品是否有短路現(xiàn)象。

汽車試驗(yàn)

在步入式試驗(yàn)室中可以模擬不同的環(huán)境，對汽車整車和零部件進(jìn)行測試，從而對汽車的性能和使用壽命做出正確的評估。

高溫耐久性測試箱設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫

GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）

GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則

GJB 150.3A-2009 實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB 150.4A-2009 實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)

GJB 150.9A-2009 實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn)

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